为HL-C2系列开发了专用的HDLC-CMOS传感器。通过最新的CMOS工艺技术和将独创的信号处理电路集成于受光元件芯片上的“系统芯片”化技术，获得了高密度的受光元件和接近极限的处理速度。
突破性地实现了一般激光位移传感器难以达到的高分辨率和高速度。
HDLC：High Density Linear Cell

全新设计的最适合HDLC-CMOS传感器的高分辨率透镜。采用本公司最新的光学仿真技术，将像差降低到最小限度。
可将任何角度的光线在受光部以极小点成像，实现了更高的精度。
HiR：High Resolution

独创的光学配置和光圈结构，实现了发射强度接近理想的近似正态分布的高品质激光。另外，通过在投光量调整功能中采用新的算法，可以瞬时跟踪受光量的变化，确保投光状态始终保持最佳。
MSGB：Micro Spot Gaussian Beam

配备独创的算法，可以在达到高精度的同时实现高速度。 所有信号都经过数字化高速处理。

■受检工件容许倾斜的范围更宽
与以往相比，对倾斜的容许度提高了1.5倍，即使测量时工件发生变动，也能轻松检测。
[HL-C203BE(-MK)的情况]

■省空间的小型检测头
小型检测头，与本公司以往产品相比，体积比下降了约23%，可以将安装空间减小到极限程度。
[HL-C203BE(-MK)的情况]

■条件设定功能
检测头功能及输出条件等显示在菜单上，可按顺序简单设定。

■测量数据显示功能
可以简便地使传感器安装时的设定及投光量设定最优化。还可在面板上进行保持及计时等输入操作。白色背光灯提高显示屏的可视性。

■主界面

可确认各种测定条件和状态、设定的界面，主监控器的Top菜单。
2台检测头有两个输出，可以各自选择Tab和设定。

可在控制器中记录16个设定条件，并以一览表的形式显示。可确认在多生产线上的工件的设定条件、在比较和检查最适合的设定时也相当便利。

■显示设定值
显示设定值和各端子的的输出状态。测量中发生警报，显示提示警报。
待机和重置等，也可通过界面上的按钮实现。

■受光量波形显示
受光量、受光元件以元件单元表示。同时最大受光量的元件单元以数值显示、检测头设置时确认简便。

■缓冲器显示
数据缓冲器连接功能、可读取在控制器中存储的数据、显示波形和数据。此外、数据存储的方法和存储周期、存储数据量等都可在界面中设置。
新追加功能、以测量工件的边缘和形状的变化点为触发器存储数据。无需界面操作和外部瞬间输入，有效的处理数据。